This amendment replaces the existing Sub-clause 8.1.1 by a new text dealing with ageing treatment of test pieces. Supersedes also the former Sub-clause 8.1.3: Procedures for prepared test pieces, which covers the ageing of the different types of test pie
IEC 60811-1-2 AMD 1-1989由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1989-10。
IEC 60811-1-2 AMD 1-1989 在中国标准分类中归属于: K15 电工绝缘材料及其制品,在国际标准分类中归属于: 29.035.01 绝缘材料综合。
IEC 60811-1-2 AMD 1-1989 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第2节:热老化方法 修改1 于 2012-03-01 变更为 IEC 60811-412-2012 电缆和光缆.非金属材料试验方法.第412部分:各类试验.热老化试验方法.空袭弹老化。
IEC 60811-1-2 AMD 1-1989 电缆绝缘和护套材料的通用试验方法 第1部分:一般使用的方法 第2节:热老化方法 修改1 于 2012-03-01 变更为 IEC 60811-401-2012 电缆和光缆.非金属材料试验方法.第401部分:各类试验.热老化试验方法.烤箱老化。
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