IEC 60749-26:2018
半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
- 标准号
- IEC 60749-26:2018
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-26:2018
- 适用范围
- IEC 60749 的这一部分建立了测试、评估和分类组件和微电路的程序，根据其对暴露于定义的人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 造成的损坏或退化的敏感性（敏感性）。本文档的目的是建立一种测试方法，该方法将复制 HBM 故障并提供可靠的@可重复的 HBM ESD 测试结果，无论组件类型如何。可重复的数据将允许对 HBM ESD 敏感度级别进行准确分类和比较。半导体器件的 ESD 测试选自本测试方法@机器模型 (MM) 测试方法（参见 IEC 60749-27）或 IEC 60749 系列中的其他 ESD 测试方法。除非另有说明，均选择该测试方法。
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