SJ/T 11702-2018
半导体集成电路 串行外设接口测试方法

Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method

SJT11702-2018, SJ11702-2018


标准号
SJ/T 11702-2018
别名
SJT11702-2018, SJ11702-2018
发布
2018年
发布单位
工业和信息化部
当前最新
SJ/T 11702-2018
 
 

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