半导体器件生产过程中涉及的化学品种类繁多、测试元素种类众多且检测精度要求ppt量级,都对设备性能及操作人员的污染控制技术提出苛刻要求。另外,随着半导体器件的尺寸不断缩小、芯片中元件的密度不断增加,生产过程中的污染控制也愈发严格。...
关于这个问题,首先是在各国的GMP里面有明确的要求,需要对数据进行统计分析,例如,中国GMP2010版[1],第二百二十一条提到:宜采用便于趋势分析的方法保存某些数据(如检验数据、环境监测数据、制药用水的微生物监测数据);第二百五十三条提到:对投诉、召回、偏差、自检或外部检查结果、工艺性能和质量监测趋势以及其他来源的质量数据进行分析,确定已有和潜在的质量问题。...
半导体器件生产过程中涉及的化学品种类繁多、测试元素种类众多且检测精度要求ppt量级,都对设备性能及操作人员的污染控制技术提出苛刻要求。另外,随着半导体器件的尺寸不断缩小、芯片中元件的密度不断增加,生产过程中的污染控制也愈发严格。...
伪造销售记录,在4批次问题产品数量统计中,只统计柜台待销和库存产品数量,不统计已销售产品数量,通过隐瞒部分不合格产品数量来逃避处罚;伪造不合格粉记录,将已销售的产量记录为生产过程中的不合格粉,假借不合格粉来充抵已销售的产量;伪造签名,相关生产记录表的签名栏中发现两名员工签名,但该公司只有其中一名员工;生产过程记录项目不全,为应对食品安全审计,临时补写不真实的生产记录。...
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