T/ZZB Q063-2022
半导体器件间歇工作寿命试验设备

Intermittent working life test equipment for semiconductor devices

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标准号: T/ZZB Q063-2022
发布: 2022年
发布单位: 中国团体标准
当前最新: T/ZZB Q063-2022

适用范围: 本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。本文件适用于验证Si\GaN\SiC材料任意封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT等半导体功率器件的使用寿命，进行加速失效分析间歇工作寿命的试验设备。

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