在固体表面分析领域,需要穿透略深于表层的范围(主要在薄膜和膜厚方面)进行分析。对于这种类型的分析,采用掠入射X射线荧光(GI-XRF)方法,通过改变X射线源的入射角使表面之下的元素被激发。NANOHUNTER II光谱仪具备改变入射角的功能,能够进行深度表面分析。GI-XRF技术适用于纳米级研究。 仪器特点 1、检测元素范围广 可检测元素从Al 到U。 ...
膜分析 厚度从几个Å 到几个mm 的薄膜的性质与相似的块体材料的性质会明显不同。X射线衍射广泛用于表征各种类型的薄膜,包括单层膜、涂层和多层膜。前些章节中大部分的理论和方法可用于薄膜体系。然而,X射线对于薄膜的穿透能力高,所以仪器的配置、数据采集和评价方法可能不同于块状材料。配置2D探测器的仪器和应用也不同于点探测器的衍射仪。 ...
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。 无损涂层测厚仪分为磁性和涡流两种,也有磁性涡流二合一两用型的。常用于测量底材是金属的表面镀层的厚度,所以也叫做镀层测厚仪。...
-2017电动、气动扭矩扳子校准规范2017-2-282017-5-28JJF1611-2017顶板动态仪校准规范2017-2-282017-5-28JJF1612-2017非接触式测距测速仪校准规范2017-2-282017-5-28JJF1613-2017掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准规范2017-2-282017-5-28JJF1614-2017抗生素效价测定仪校准规范2017-2-282017...
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