1.电子背散射衍射分析技术(EBSD/EBSP) 20世纪90年代以来，装配在SEM上的电子背散射花样(Electron Back-scattering Patterns，简称EBSP)晶体微区取向和晶体结构的分析技术取得了较大的发展，并已在材料微观组织结构及微织构表征中广泛应用。 ...
请观看视频：03Bruker e-Flash EBSD/TKD电子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction，简称EBSD)是使用扫描电子显微镜(SEM)，或SEM-FIB(聚焦离子束)或电子探针显微分析仪（EPMA）测量和面扫描晶体试样获得晶体学信息的技术。在EBSD设备中，电子束入射倾斜晶体样品，产生的散射电子在荧光屏上形成衍射花样。...
电子束入射到晶体上发生散射后，散射电子入射到某些晶面，发生布拉格衍射（强反射）。强反射后逃离样品表面的电子称为背散射电子。该电子分布遵循一定晶带分布规律的亮带组成，亮带宽度与所属晶面的布拉格角成正比，形成晶体结构的重要衍射信息——“菊池花样”，从而可对样品的纤维组织逐点作晶体学分析，获得晶体取向图。...
例如，将扫描电镜和X射线能谱(EDS)配合使用，可在观察微观结构的同时，分析样品的元素成分以及在相应视野内的元素分析。 透射电镜(TEM) 用聚焦电子束作照明源，使用于对电子束透明的薄膜试样，以透过试样的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析试样内部的显微组织结构。 ...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号