DIN ISO 22309 E:2015-05
微光束分析 用能量扩散光谱测定法(EDS)对原子序数大于等于11(Na)的元素进行定量分析
Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above
- 标准号
- DIN ISO 22309 E:2015-05
- 发布
- 1970年
- 发布单位
- /
- 替代标准
- DIN ISO 22309:2015-11
- 当前最新
- DIN ISO 22309:2015-11
DIN ISO 22309 E:2015-05相似标准
KS D ISO 22309:2011 微光束分析.用能量扩散光谱测定法(EDS)对原子序数大于等于11(Na)的元素进行定量分析
ISO 22309:2011 微光束分析.用能量扩散光谱测定法(EDS)对原子序数大于等于11(Na)的元素进行定量分析
DIN ISO 22309:2015 微光束分析.用能量扩散光谱测定法(EDS)对原子序数大于等于11(Na)的元素进行定量分析(ISO 22309-2011)
GOST R ISO 22309-2015 确保测量一致性的国家系统. 微束分析. 采用能量扩散光谱测定法 (EDS) 对原子序数大于等于11 (Na) 的元素进行定量分析
OS GSO ISO 22309:2015 微束分析 使用能量色散光谱法 (EDS) 对原子序数为 11 (Na) 或以上的元素进行定量分析
推荐
微区X射线光谱分析仪的分析应用
电子探针全称电子探针X 射线显微分析仪，又称微区X射线光谱分析仪，是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，英文简称为EPMA。 可用来分析薄片中矿物微区的化学组成，分析对象是固体物质表面细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。 ...
金属和合金微观分析常用技术盘点
AES的基本原理是用电子束或X射线轰击试样表面，使其表面原子内层能级电子被击出而形成空穴，较高能级电子填补空穴并将释放的能量传递给另一电子使之逸出（即俄歇电子），通过检测俄歇电子能量和强度，从而获得有关表面层化学成分的定性和定量信息。现已成为表面元素定性、半定量分析、元素深度分布和微区分布的无损检测手段，是目前最常用的最重要的材料表面元素组成分析方法之一。...
教你如何识别X射线荧光光谱仪缩略术语
在很多情况下，LE也代表在化学元素周期表中原子序数低的元素，这些元素我们无法利用手持式XRF分析仪进行检测，比如钠(Na)，碳(C)，氢(H)，以及氧(O)。 氢(H)到钠(Na):这些LE(蓝色区域内的)我们无法使用手持式XRF分析仪探测到。镁(Mg)到钪(Sc):这些元素(黄色区域内)无法用PIN探测器检测—需要使用搭载了SDD探测器的手持式XRF分析仪。 ...
现代测试技术在有色宝石学研究中的作用
1.原理X射线荧光的波长λ与元素的原子序数Z有关，随着元素的原子序数的增加，特征X射线有规律地向短波长方向移动。各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长，只要测出荧光X射线的波长，就可知道元素的种类，这是荧光X射线定性分析的基础，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，这就是用X射线荧光光谱仪进行定量分析的依据。...