EN 60749-43:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans

EN 60749-43:2017 发布历史

IEC 60749-43:2017 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs). This document is not intended for military- and space-related applications.

EN 60749-43:2017由欧洲电工标准化委员会 IX-CENELEC 发布于 2017-09-01，并于 2017-10-20 (7) 实施，于 2020-07-20 (7) 废止。

EN 60749-43:2017在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

EN 60749-43:2017的历代版本如下：

• 2017年 EN 60749-43:2017

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标准号

EN 60749-43:2017

发布

2017年

发布单位

欧洲电工标准化委员会

当前最新

EN 60749-43:2017

 

 

适用范围

IEC 60749-43:2017 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs). This document is not intended for military- and space-related applications.

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