NS-EN 12544-2:2000
无损检测 X 射线管电压的测量和评估 第2部分：厚滤波法稳定性检查

Non-destructive testing — Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage — Part 2: Constancy check by the thick filter method

标准号

NS-EN 12544-2:2000

发布

2000年

发布单位

SCC

当前最新

NS-EN 12544-2:2000

 

 

适用范围

采纳来源：EN 12544-2:2000 本标准规定了 X 射线系统的稳定性检查，主要检查 X 射线电压以及管电流和靶的构成，这些可能由于管的老化而发生变化。厚滤光片法基于在规定的厚滤光片后面使用规定的 X 射线管、滤光片和测量装置之间的距离测量剂量率。该方法对电压变化非常敏感，但不能提供 X 射线管电压的绝对值。

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