DIN 50989-2:2021-04
椭偏仪 第2部分:散装材料模型

Ellipsometry - Part 2: Bulk material model; Text in German and English


标准号
DIN 50989-2:2021-04
发布
2021年
发布单位
德国标准化学会
当前最新
DIN 50989-2:2021-04
 
 

DIN 50989-2:2021-04相似标准


推荐

椭圆偏振光谱技术

橢便测量粗糙度,空隙率,请简单介绍。通过有效介质模型分析表面的粗糙程度,一般设计空气含量50%,上层薄膜含量50%为粗糙层;材料的孔隙率分析与之类似,材料的折射率受到孔隙的“稀释”,因此孔隙的比率,与实际材料的折射率/无孔隙材料折射率的比值相关。2. 橢测带隙宽度,是否应该先测出光学常数。与uv--vis吸收有什么区别?分析材料带隙需要先测出光学常数。...

光谱你知道多少?

  的适用样品范围很广,紫外至近红外波段透过半透过等材料都不在话下,也就是可以表征绝大部分的半导体和介电薄膜材料,甚至厚度在几十纳米以下的金属薄层也是囊中之物。  可以直接测量样品折射率和消光系数,也就是光的吸收强度;  在此基础上,我们可以鉴定样品的组分和带隙;  最后通过与强大的软件分析相结合,样品信息如厚度、粗糙度、均匀度、孔隙率、电导率等,在面前一览无余。  ...

观点|反射式RAP型椭圆偏振光谱及其应用

Drude 以此提出了椭圆偏振光测量的理论并建立了 1 套实验装置,测量了 18 种金属的光学常数。随后,测量研究一直陷于停滞,直到 Tronstad 将其应用于电化学的研究中,测量所具有的高精确度与非破坏性的优点才得以重视并广泛地应用在各个研究领域中。...

光谱基础知识答疑——拉曼、荧光、颗粒表征等多种热门光学光谱技术

通过有效介质模型分析表面的粗糙程度,一般设计空气含量50%,上层薄膜含量50%为粗糙层;材料的孔隙率分析与之类似,材料的折射率受到孔隙的“稀释”,因此孔隙的比率,与实际材料的折射率/无孔隙材料折射率的比值相关。2. 橢测带隙宽度,是否应该先测出光学常数。与uv--vis吸收有什么区别?分析材料带隙需要先测出光学常数。...


DIN 50989-2:2021-04 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号