ASTM E1392-96(2002)
ASTM E1392-96(2002)

标准号

ASTM E1392-96(2002)

发布

1970年

发布单位

/

当前最新

ASTM E1392-96(2002)

 

 

引用标准

ASTM E167 ASTM E179 ASTM E284 ASTM F1048

适用范围

1.1 本实践解释了确定不透明表面光散射的量和角分布的程序。它特别关注双向反射分布函数 (BRDF) 的测量。 BRDF 是一种方便且被广泛接受的表达光学散射水平的方法，可用于多种用途 (1,2)。 2 附录 X1 中描述的其他数据表示格式对于某些应用具有优势。当对模型关系做出假设时，可以根据光学散射数据计算表面参数。附录 X2 中描述了其中一些推断参数。
1.2 不透明表面的光学散射是由表面形貌、表面污染和地下效应造成的。用户有责任确保测量的散射水平归因于正确的机制。来自少量污染物的散射很容易主导来自光滑表面的散射。同样，表面下效应可能比表面超抛光时通常实现的散射作用更重要。
1.3 这种做法不提供从任何其他波长的数据推断一个波长的数据的方法。在特定入射和散射方向获取的数据不会外推到其他方向。换句话说，从这种实践中不能推断出波长或角度缩放。通常用户必须在感兴趣的波长和角度进行测量。
1.4 这种做法仅适用于不透明样品的 BRDF 测量。它不适用于半透明或透明材料的散射。有一些微妙的复杂情况会影响半透明或透明材料的测量，最好在单独的标准中解决这些问题（参见实践 E 167 和指南 E 179）。
1.5 本实践适用的波长包括紫外线、可见光和红外线区域。获得适当的光源、探测器和低散射光学器件的困难使其在波长小于约 0.25 µm 的实际应用变得复杂。对于大于 15 µm 的波长，衍射效应开始变得重要，使其在较长波长下的实际应用变得复杂。衍射效应可以在散射测量 (3) 中得到适当处理，但在本实践中不对其进行讨论。
1.6 任何实验参数都是可能的变量。在测量序列期间保持恒定的参数被报告为表格数据集的标题信息。附录 X3 给出了推荐的报告格式，该格式适用于改变任何样品或系统参数。
1.7 本实践适用于任意形状的平面或弯曲样品。然而，讨论和示例中仅讨论了平坦的圆形样本。用户有责任定义适当的样品坐标系，以指定不平坦样品在样品表面上的测量位置。
1.8 设备和测量程序是通用的，因此在本实践的使用中既不排除也不暗示特定的仪器。
1.9 本标准无意解决与其使用相关的安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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