ISO 3497:2000
金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
- 标准号
- ISO 3497:2000
- 发布
- 2000年
- 中文版
- GB/T 16921-2005 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 3497:2000
- 适用范围
- 警告 本国际标准不涉及有关人员 X 射线防护的问题。 有关这一重要方面的信息，应参考现行国际和国家标准以及当地法规（如果存在）。 1 本国际标准规定了采用 X 射线光谱法测量金属涂层厚度的方法。 2 本国际标准适用的测量方法基本上是测定单位面积质量的方法。 利用涂层材料密度的知识，测量结果也可以表示为涂层的线性厚度。 3 测量方法允许同时测量最多三层的涂层系统，或同时测量最多三个组分的层的厚度和成分。 4 给定涂层材料的实际测量范围很大程度上取决于待分析的特征 X 射线荧光的能量以及可接受的测量不确定度，并且可能因所使用的仪器系统和操作程序而异。
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