EN ISO 3497:2000
金属覆盖层.镀层的厚度测量.X射线光谱法ISO 3497-2000
Metallic Coatings - Measurement of Coating Thickness - X-Ray Spectrometric Methods ISO 3497:2000
- 标准号
- EN ISO 3497:2000
- 发布
- 2000年
- 发布单位
- 欧洲标准化委员会
- 当前最新
- EN ISO 3497:2000
EN ISO 3497:2000相似标准
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五金镀层测厚仪测量值精度的影响因素
五金镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。 ...
涂层测厚仪的选型及影响因素
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。...
测量镀层或薄膜厚度的几种常见方法
其中： 化学法包括化学溶解分析法、化学溶解称重法和化学溶解液流计时法； 电化学法包括电化学阳极溶解法（库仑法）； 物理法包括直接测量法和仪器测量法（磁性法、非磁性法、X射线法和电镜法等）。 下面重点介绍几种常用的镀层厚度测试方法。 1、磁性法 【测试原理】磁性测厚仪测量永久磁铁和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化，或者是测量穿过覆盖层与基体金属的磁通路的磁阻。 ...
涂层测厚仪的选购指南
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。...
EN ISO 3497:2000 中可能用到的仪器设备
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