纳米制造.关键控制特性.第6-10部分:石墨烯基材料.薄片电阻:太赫兹时域光谱法 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
IEC/TC 113已同意接受根据此项目而提出的标准草案:《IEC/TS 62607-6-8:纳米制造-主要控制特性——第6-8部分:石墨烯-四点探针法测量薄片电阻》。项目会议上,IEC / TC 113对起草过程的进展进行了更新。考虑到向IEC/TC 113提出的新工作项目(初步阶段)的提案,正在起草的协议要符合IEC/TC 113的技术规格要求。...
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