主要特点两个高压脉冲发生器单元 (+/- 40 V)时域测量:60 微秒 - 可变间隔高达 10,001 点易于使用的旋钮扫描,类似于曲线跟踪器自动分析功能内置安捷伦/惠普仪器 BASIC触发 I/Q 能力4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室,HP4145B是电子工业中***个可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。...
的分辨率HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室,HP4145B是电子工业中 个可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。HP4145B通过对器件加电压,测电流,HP4145B或加电流测电压并将测试结果显示在内置的CRT显示器上,结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。...
最近研究者利用柔性电子元件设计来实现其与神经系统间长期稳定的界面接触。这使得植入电子元件与神经系统具有相似的机械性能以减少神经元损伤和电子元件外围伤疤组织的形成。另外,研究者也提出无线植入电子器件,用于实现器件与自由活动生物中枢和边缘神经系统的连接。...
后者以接近-收回的方式工作,确保无摩擦操作,从而消除了在扫描器移动期间由于连续的针尖样-品接触而产生的侧向力。通过控制针尖和样品表面之间的接触时间和接触力,可以获得准确和可再现的数据,因此,这是连续较小电子器件缺陷测试的关键特征。用于改进材料分析的高真空C-AFM在高真空(HV)中执行C-AFM测量可显著提高图像质量。特别是,与环境条件相比,测得的电流增加了三个数量级,具有高均匀性。...
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