因此从花样质量可直观地定性评估晶格内存在的塑性应变。用EBSD进行应变测量的一些例子如下:1)在部分再结晶的显微组织中辨别有无应变晶粒; 2)陨石中的固溶诱导应变;3)测定锗离子束注入硅中产生的损伤。4....
(2)图b是L-PBF 316L SS试样的横截面电子背散射衍射(EBSD)反极图(IPF),其显示了试样的晶粒取向。反极图以2-μm的步长,从水平方向构建获得。(3)图c是横截面扫描电镜(SEM)图像,显示了融合边界、大角度晶界(HAGBs)和胞状结构。放大图显示的是胞状结构。图像经垂直方向构建获得。...
EBSD技术的应用领域集中于多种多晶体材料——工业生产的金属和合金、陶瓷、半导体、超导体、矿石——以研究各种现象,如热机械处理过程、塑性变形过程、与取向关系有关的性能(成型性、磁性等)、界面性能(腐蚀、裂纹、热裂等)、相鉴定等。电子背散射衍射(EBSD)测试在EBSD设备中,一束电子束入射倾斜晶体样品,产生的散射电子在荧光屏上形成衍射花样。...
因此,随着高性能扫描电子显微镜SEM技术的进步,越来越多的研究者选择通过SEM配备的背散射电子探测器,基于电子通道衬度原理(ECCI),表征块体材料的晶体缺陷。进一步结合EBSD和或摇摆电子束功能技术可以对衍射条件(g矢量)、位错类型及伯氏矢量等进行深入的分析,由于其高通量、高效率、高分辨率的特点,在金属、陶瓷及半导体材料的晶体缺陷研究中应用越来越广泛。...
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