CEI EN IEC 61967-8:2023
集成电路电磁辐射测量第8部分:辐射辐射测量 IC带状线法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method

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标准号: CEI EN IEC 61967-8:2023
发布: 2023年
发布单位: SCC
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适用范围: 英语 IEC 61967 的这一部分定义了一种使用 IC 带状线测量集成电路 (IC) 电磁辐射的方法。被评估的 IC 安装在 EMC 测试板 (PCB) 上，位于 IC 带状线布置的有源导体和接地平面之间。

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