BS EN IEC 60749-28:2022
半导体器件 机械和气候测试方法 静电放电(ESD)灵敏度测试 充电设备模型(CDM)设备级
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
- 标准号
- BS EN IEC 60749-28:2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN IEC 60749-28:2022
- 适用范围
- 范围 IEC 60749 的这一部分根据器件和微电路暴露于定义的场感应带电器件模型 (CDM) 静电放电 (ESD) 造成损坏或退化的敏感性（敏感性），建立了对器件和微电路进行测试、评估和分类的程序。 。 所有封装半导体器件、薄膜电路、表面声波 (SAW) 器件、光电器件、混合集成电路 (HIC) 以及包含任何这些器件的多芯片模块 (MCM) 均应根据本文件进行评估。 为了执行测试，设备被组装成类似于最终应用中预期的封装。 本 CDM 文件不适用于插座放电模型测试仪。 本文档描述了场感应 (FI) 方法。 另一种方法是直接接触 (DC) 方法，在附录 J 中进行了描述。 本文件的目的是建立一种测试方法，该方法将复制 CDM 故障并提供可靠、可重复的 CDM ESD 测试结果，无论设备如何类型。 可重复的数据将允许对 CDM ESD 敏感度级别进行准确的分类和比较。
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