GSO ISO 25498:2015
微束分析 分析扫描电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析

Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope


 

 

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标准号
GSO ISO 25498:2015
发布
2015年
发布单位
GSO
当前最新
GSO ISO 25498:2015
 
 
适用范围
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1）电子显微镜中主要有SAED选区电子衍射、μ-衍射、纳米衍射、CBED会聚束衍射、EBSD背散射电子衍射五种电子衍射。 2）操作特点： ①SAED选区电子衍射采用TEM模式，利用μ级平行入射电子束照射试样，通过物镜像平面处的选区光阑选取特定区域做电子衍射，得到与选择区域对应的电子衍射花样。...


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