MFX的基本原理示意图在MFX中,阴极发射的电子会被聚焦到靶上的一个点,称为X射线焦点(X-ray Focal Spot);MFX所发出的X射线均从X射线焦点以一个特定的发射角(Beam Angle)射出,一般作为X-射线光源应用于工业或科研无损检测/成像之中。...
1 、C-SAM(超声波扫描显微镜),无损检查:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等. 德国 2 、X-Ray(这两者是芯片发生失效后首先使用的非破坏性分析手段),德国Fein 微焦点Xray用途:半导体BGA,线路板等内部位移的分析 ;利于判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷. ...
失效分析常用方法1、 C-SAM(超声波扫描显微镜),无损检查:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等. 德国2、 X-Ray(这两者是芯片发生失效后首先使用的非破坏性分析手段),德国Fein 微焦点Xray用途:半导体BGA,线路板等内部位移的分析 ;利于判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷. ...
它主要控制哪二部分电路工作? 同步电路产生同步脉冲信号,用以触发仪器各部分电路同时协调工作,它主要控制同步发射和同步扫描二部分电路。30.无损检测的目地? 1、改进制造工艺;2、降低制造成本;3、提高产品的可能性;4、保证设备的安全运行。...
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