KS C IEC 62047-22-2016(2021)
半导体器件微机电器件第18部分:薄膜材料弯曲试验方法

Semiconductor devices ― Micro-electromechanical devices ― Part 18: Bend testing methods of thin film materials

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标准号

KS C IEC 62047-22-2016(2021)

发布日期

2016年12月29日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.99

发布单位

KR-KS