ASTM F769-00
测量晶体管和二极管泄漏电流的标准测试方法（2006 年撤回）
Standard Test Method for Measuring Transistor and Diode Leakage Currents (Withdrawn 2006)
- 标准号
- ASTM F769-00
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F769-00
- 适用范围
- 1.1 本测试方法涵盖晶体管和二极管漏电流的测量。暴露于电离辐射的电子设备可能会随着累积总剂量的增加而出现漏电流增加。
1.2 这些程序适用于测量 10 -11 至 10 -3 A 范围内的电流。
1.3 该测试方法可与虚地电流表或电阻分流电流表一起使用。
1.4 规定的值国际单位制（SI）中的数值被视为标准。本测试方法中不包含其他测量单位。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
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