IEC 60747-5-10:2019
半导体器件第5-10部分:光电子器件发光二极管基于室温基准点的内部量子效率试验方法

Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point

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标准号

IEC 60747-5-10:2019

发布日期

2019年12月11日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.99

发布单位

国际电工委员会

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