BS EN ISO 16371-2:2017(2018)
无损检测 - 使用存储荧光成像板的工业计算机射线照相 第2部分：使用 X 射线和伽马射线测试金属材料的一般原则
Non - destructive testing – Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates Part 2 : General principles for testing of metallic materials using X - rays and gamma rays
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- 0000年 BS EN ISO 16371-2:2017(2018)
- 2017年 BS EN ISO 16371-2:2017 无损检验 用存储荧光成像板的工业计算辐射摄影术 第2部分：用X射线和γ射线检验金属材料的一般原则
- 2005年 BS EN 14784-2:2005 无损检验.用存储荧光成像板的工业计算辐射摄影术.用X射线和γ射线检验金属材料的一般原则
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DS/EN 14784-2:2005 无损检测 使用存储荧光成像板的工业计算机射线照相术 第2部分：使用 X 射线和伽马射线检测金属材料的一般原则
LST EN 14784-2-2005 无损检测 使用存储荧光成像板的工业计算机射线照相术 第2部分：使用 X 射线和伽马射线检测金属材料的一般原则
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