BS ISO 10110-8:1997
光学和光学仪器光学元件和系统图纸的准备表面纹理

Optics and optical instruments. Preparation of drawings for optical elements and systems-Surface texture

被代替

2010-10

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标准号: BS ISO 10110-8:1997
发布: 1998年
发布单位: SCC
替代标准: BS ISO 10110-8:2010; BS ISO 10110-8:1998
当前最新: BS ISO 10110-8:2019

适用范围: 交叉参考： ISO 10110-1:1996 ISO 10110-7:1996 ISO 1302:1992 ISO 4287:1997 ISO 10110-10:1996

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根据每10mm扫描的微缺陷的光滑度，将抛光等级指定为1-4，如下表1所示:表1:用微观缺陷表示的光滑度使用的统计方法，在图1中显示为“RQ 4 ”:这将指示用于测量表面粗糙度的统计方法，后面是值。空间带宽，在图1中显示为“1/0.003 ”:这指定了从上限到下限的空间带宽范围。02空间频率和频率组当量化光学元件的表面纹理时，重要的是定义所测量的空间分辨率的级别。...

了解表面光洁度

空间带宽，在图1中显示为“1/0.003 ”：这指定了从上限到下限的空间带宽范围。02空间频率和频率组当量化光学元件的表面纹理时，重要的是定义所测量的空间分辨率的级别。表面纹理或表面的完整形状可以分为三个主要的空间频率组：粗糙度、波度和图形。图2：形状、波纹度和光洁度在不同尺度下表征表面纹理图2显示了表面形状、波度和光洁度如何共同表征表面偏离其理想形状的所有方式。...

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