X射线计算机断层扫描技术(CT)利用X射线对材料进行成像表征。是一种将实验技术和数学分析相结合以获取材料三维微观结构的无损、可视化表征技术。相对于其他测试方法,计算机断层扫描技术无需对待测样品进行预处理,对微观结构不会产生破坏。还可以对样品进行原位连续观察。计算机断层扫描技术能表征样品的三维空间微观结构,更符合实际的微观结构。尽管计算机断层扫描技术在研究孔隙结构时,会受图像分辨率的限制。...
显微计算机断层扫描仪是一种用于临床医学、材料科学领域的分析仪器,于2016年7月19日启用。 技术指标 1.μCT 50 主机技术指标: X线球管电压最大90kVp,焦点直径5~30微米,最大功率18W,设备外表面辐射剂量0.25μSv/h,分辨率 2 μm (10% MTF),额定为0.5 μm。探测器系统(CCD, 3400x1200),电子数据采集。...
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