IEC 60444-2:1980
用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network; part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
- 标准号
- IEC 60444-2:1980
- 发布
- 1980年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60444-2:1980
- 适用范围
- 描述了一种适合在 1 MHz 至 125 MHz 频率范围内进行测量的方法，总测量误差约为 5%。该方法基于谐振频率及其附近的相位测量。动议的价值
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