GB/T 12273-1996
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分;总规范

Quartz crystal units--A specification in the Quality Assessment System for Electronic Components--Part 1: Generic specification

GBT12273-1996, GB12273-1996

2017-12

标准号
GB/T 12273-1996
别名
GBT12273-1996, GB12273-1996
发布
1996年
采用标准
IEC 1178-1:1993 IDT
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 12273.1-2017
当前最新
GB/T 12273.1-2017
 
 
被代替标准
GB 12273-1990
适用范围
本标准按IEC QC001002第11章规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体元件的试验方法和通用性要求。

GB/T 12273-1996相似标准


推荐

这些国家标准已正式实施,涉及新能源、半导体、医疗器械

质量评定的压电滤波器 4部分:分规范 能力批准2024/1/128GB/T 22318.1-2023声表面波谐振器 1部分规范GB/T 22318.1-20082024/1/129GB/T 22318.2-2023声表面波谐振器 2部分:使用指南GB/T 22318.2-20082024/1/130GB/T 22319.6-2023石英晶体元件参数的测量 6部分:激励电平相关性(DLD...

质检总局、国标委联合发布357项国标 6项涉及食品检测

  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 6部分:化学稳定性测试方法  GB/T 5594.6-1985 2016-01-01  GB/T 5594.7-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 7部分:透液性测定方法  GB/T 5594.7-1985 2016-01-01  GB/T 5594.8-2015  电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 8部分:显微结构的测定方法  GB/T...

关于批准发布《公共信息图形符号 1部分:通用符号》等583项推荐性国家标准和6项国家标准修改单的公告

-01-01 112 GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 石英晶体元件参数的测量 6部分:激励电平相关性(DLD)的测量...

温湿度记录仪在电子半导体行业的应用

一、湿度对电子元器件和整机的危害绝大部分电子产品都要求在干燥条件下作业和存放。据统计,全球每年有1/4以上的工业制造不良品与潮湿的危害有关。对于电子工业,潮湿的危害已经成为影响产品质量的主要因素之一。1.集成电路:潮湿对半导体产业的危害主要表现在潮湿能透过IC塑料封装从引脚等缝隙侵入IC内部,产生IC吸湿现象。...


GB/T 12273-1996 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 12273-1996 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号