IEC 60747-10:1991
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits


IEC 60747-10:1991

标准号
IEC 60747-10:1991
发布
1991年
中文版
GB/T 4589.1-2006 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60747-10/AMD1:1995
当前最新
IEC 60747-10:1991/AMD3:1996
 
 
被代替标准
IEC 60747-10:1984
定义了 IECQ 体系中使用的质量评估的一般程序,并给出了以下一般规则: - 电气特性的测量方法; - 气候和机械测试; - 耐力测试。

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