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—在FPD应用中,QD有望提高效能并降低功耗,增加亮度和色彩饱和度,延长显示器使用寿命,并降低当前FPD技术(包括有机发光二极管 (OLED) 技术)的成本。人们普遍认为,QD设备的问世将会创造一种新的范式,这将终结液晶显示器 (LCD) 的市场垄断地位,并由开发出的新型低成本的薄膜晶体管 (TFT) 产品取而代之。QD对平板显示器 (FPD) 行业将产生深远影响,但一切真的会从此改变吗?...
IEC/TC 113已同意接受根据此项目而提出的标准草案:《IEC/TS 62607-6-8:纳米制造-主要控制特性——第6-8部分:石墨烯-四点探针法测量薄片电阻》。项目会议上,IEC / TC 113对起草过程的进展进行了更新。考虑到向IEC/TC 113提出的新工作项目(初步阶段)的提案,正在起草的协议要符合IEC/TC 113的技术规格要求。...
R50四探针电阻率测量仪Filmetrics R50 系列提供接触式四点探针 (4PP) 和非接触式涡流 (EC)测量。最快 1 点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动 X-Y 载物台使用标准晶片吸盘定制样品架,最大可测量 300mm 的样品,或200mm 的面积。...
应用:半导体制造(光刻胶、氧化物/氮化物/SOI、晶圆背面研磨);LCD 液晶显示器(聚酰亚胺、ITO 透明导电膜);光学镀膜(硬涂层、抗反射层);MEMS 微机电系统(光刻胶、硅系膜层)。 R50四探针电阻率测量仪Filmetrics R50 系列提供接触式四点探针 (4PP) 和非接触式涡流 (EC)测量。最快 1 点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。...
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