IEEE Std 1505.1-2019

IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505

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标准号

IEEE Std 1505.1-2019

发布

2019年

发布单位

美国电气电子工程师学会

当前最新

IEEE Std 1505.1-2019

 

 

适用范围

An extension to the IEEE 1505TM receiver fixture interface (RFI) standard specification is provided in this standard. Particular emphasis is placed on defining within the IEEE 1505 RFI standard a more specific set of performance requirements that employ a common scalable: 1) pin map configuration; 2) specific connector modules; 3) respective contacts; 4) recommended switching implementation; and 5...

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