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(1)温度与平均无故障运行时间的关系——10℃法则 温度与平均无故障运行时间的关系：由于现代电子设备所用的电子元器件的密度越来越高，使元器件之间通过传导、辐射和对流产生热耦合。 因此，热应力已经成为影响电子元器件时效的一个最重要的因素。对于某些电路来说，可靠性几乎完全取决于热环境。 为了达到与其的可靠性目的，必须将元器件的温度降低到实际可以达到的最低水平。 ...
在实际认证试验中，根据元器件的电气规格和机械规格制定验证项目，作为车电指导性的可靠性标准，AEC-Q系列标准大量采用JEDEC、MIL、IEC、SAE中关于元器件的可靠性试验方法，结合汽车工业所要求的应力加速模型，设定试验条件。...
4 半导体器件筛选方案设计 半导体器件可以划分为分立器件和集成电路两大类。分立器件包括各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、光电器件及特种器件; 集成电路包括双极型电路、 MOS电路、厚膜电路、薄膜电路等器件。各种器件的失效模式和失效机理都有差异。...
另外，出厂前还要经过马拉松试验，测算平均无故障时间等参数。产品验证环节，决定了设备最终的市场竞争力。一位下游企业的老总曾向王龙兴坦言，即使国产设备性能可以做到和国际巨头一样，但他们还是不会轻易使用。“因为买设备看重的不只是性能，还有设备的运行成本。简单来说，就是生产一个芯片的成本。”...
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