IEC 60749-37:2022
半导体设备 机械和气候测试方法 第37部分：使用加速度计的板级跌落测试方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
- 标准号
- IEC 60749-37:2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-37:2022
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