扫描探针显微技术主要是利用顶端约1-10Å的探针来3D解析固体表面纳米尺度上的局部性质。扫描探针显微镜SPMs就是一系列的基于扫描探针显微术而发展起来的显微镜,它包括STM、AFM、LFM、MFM等等。...
扫描探针显微术SPM 扫描探针显微技术主要是利用顶端约1-10Å的探针来3D解析固体表面纳米尺度上的局部性质。扫描探针显微镜SPMs就是一系列的基于扫描探针显微术而发展起来的显微镜,它包括STM、AFM、LFM、MFM等等。...
在2006年,他向国际标准化组织ISO/TC201(表面化学分析技术委员会)提出了“扫描探针显微镜漂移速率测量方法标准”的提案,目的是要将SPM工作时纳米/秒的漂移大小和方向测量出来,以规范这类仪器的使用方法。2007年该提案正式立项,黄文浩教授被指定为该项目工作组的召集人。经过四年多的努力,SPM漂移测量方法标准的最终草案于2011年经全体成员国投票后顺利通过,并于2012年正式发布。 ...
它具有效率高、能提供量化的三维信息和对样品无破坏的特点,是分析CD/DVD盘片及其模板质 量的重要工具。原子力显微镜(AFM) 1981年,G.Binnig和H.Roher等人发明了扫描隧道显微镜(STM),STM采用电场电子隧道效应,因而具有极高的测量分辨率。 其测量机理是探针针尖与被测表面在近场范围内发生作用,通过检测这种近场作用,就可获得被测样品的表面形貌。...
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