数字音频特性的通用测量条件和测量方法见SJ/T 11180.1《音频和视听设备 数字音频部分 音频特性基本测量方法 第1部分:总则》。IDT IEC 61606-3:20085. ...
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IEC/TC 113已同意接受根据此项目而提出的标准草案:《IEC/TS 62607-6-8:纳米制造-主要控制特性——第6-8部分:石墨烯-四点探针法测量薄片电阻》。项目会议上,IEC / TC 113对起草过程的进展进行了更新。考虑到向IEC/TC 113提出的新工作项目(初步阶段)的提案,正在起草的协议要符合IEC/TC 113的技术规格要求。...
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