找不到引用BS EN 2591-207:1996 电气和光学连接元器件.试验方法.第207部分:电压防护试验 的标准
CTI/PTI测试(Annex C)修改:CTI/PTI测试标准从BS EN 60112:2003更新为 BS EN 60112:2003 + A1:2009。带电子元器件插头的要求(Annex G)新增:1、 内部携带电子元器件的插头需符合EMC要求;2、 带浪涌防护装置的插头应符合相应标准要求;3、 带电子开关的插头应符合相应标准要求。...
基于加速老化试验的可靠性定量评定.温度、湿度和稳态BS EN 62005-3-2001 光纤互连装置和无源光学元件可靠性.无源元件失效模式和失效机理评定试验BS IEC 60300-3-5-2001 可靠性管理.应用指南.可靠性试验条件和统计试验原则DD ENV 50219-1996 欧洲微型试验芯片的可靠性试验结构描述BS 5760-13.5-1996 系统、设备和部件可靠性.第13部分:消耗品可靠性试验条件指南...
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