BS EN 160200-2:1998
电子元器件质量评定协调体系.分规范:经质量评定的微波模数电子器件.试验方法索引

Harmonized system of quality assessment for electronic components - Sectional specification - Microwave modular electronic units of assessed quality - Index of test methods


 

 

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标准号
BS EN 160200-2:1998
发布
1998年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN 160200-2:1998
 
 
被代替标准
93/205132 DC-1993
适用范围
EN 160200 分规范第 2 部分定义了电气、机械和目视检查的标准/参考测试方法,如分规范 EN 160200 第 1 部分和微波模块化电子单元 (MMEU) 空白详细规范 EN 160201 中规定。 EN 160200-1 第三部分详细介绍了测试和测量程序的一般要求(包括环境测试要求)。 本标准规定了与微波测试方法相关的大量文件。 其中许多不属于 IEC 或 CECC 规范的范围。 尽管 IEC 和 CECC 正在制定许多测试方法,但它们被认为可以在本标准中使用。 如果测试方法被认为适合插入本标准,则它们要么在第 2.4 条 - 标准测试方法下引用,要么在第 2.5 条 - 特殊测试方法下详细说明。 这些测试方法涵盖的 MMEU 示例包括:  ——放大器 - 衰减器 - 耦合器/功率分配器 - 滤波器 - 隔离器/循环器 - 限制器 - 混频器 - 噪声源 - 振荡器 - 移相器 - 开关 - 发射机(例如集成多通道)要测量的主要电气特性在空白详细规范 (BDS) - EN 160201 的附录 C 中给出。 当其他测试方法可用时,将审查 EN 160200 的第 2 部分。

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