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显微镜法(Microscopy)：SEM,TEM；1nm～5μm范围；适合纳米材料的粒度大小和形貌分析；优点是可以提供颗粒大小，分布以及形状的数据，此外，一般测量颗粒的大小可以从1纳米到几个微米数量级。并且给的是颗粒图像的直观数据，容易理解。但其缺点是样品制备过程会对结果产生严重影响，如样品制备的分散性，直接会影响电镜观察质量和分析结果。电镜取样量少，会产生取样过程的非代表性。...
一般来说，筛分法或激光衍射法测定粒度包括以下步骤：（1）粉末的抽样，（2）对抽样样品进行取样作为分析样品，（3）样品的制备或分散，（4）仪器设置和确认，（6）粒径测定，（6）数据分析和说明，（7）报告粒度结果[13]。因此，一个完整的分析方法应该包括所有这些信息。在这些阶段中，如何从粉体中获得少量能代表粒度分布的样品很关键。Allen已经证明，选择合适的取样器将大大提高粒度测定的重现性[14]。...
一般来说，筛分法或激光衍射法测定粒度包括以下步骤：（1）粉末的抽样，（2）对抽样样品进行取样作为分析样品，（3）样品的制备或分散，（4）仪器设置和确认，（6）粒径测定，（6）数据分析和说明，（7）报告粒度结果[13]。因此，一个完整的分析方法应该包括所有这些信息。在这些阶段中，如何从粉体中获得少量能代表粒度分布的样品很关键。Allen已经证明，选择合适的取样器将大大提高粒度测定的重现性[14]。...
一般来说，筛分法或激光衍射法测定粒度包括以下步骤：（1）粉末的抽样，（2）对抽样样品进行取样作为分析样品，（3）样品的制备或分散，（4）仪器设置和确认，（6）粒径测定，（6）数据分析和说明，（7）报告粒度结果[13]。因此，一个完整的分析方法应该包括所有这些信息。在这些阶段中，如何从粉体中获得少量能代表粒度分布的样品很关键。Allen已经证明，选择合适的取样器将大大提高粒度测定的重现性[14]。...
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