GB/T 17473.6-1998
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定已作废

Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics--Determination of resolution

GB/T 17473.6-1998 发布历史

本标准规定了贵金属浆料分辨率的测试方法。 本标准适用于贵金属浆料的分辨率测定。非贵金属浆料亦可参照使用。

GB/T 17473.6-1998由国家质检总局 CN-GB 发布于 1998-08-19，并于 1999-03-01 实施，于 2008-09-01 废止。

GB/T 17473.6-1998 在中国标准分类中归属于: H23 金属工艺性能试验方法。

GB/T 17473.6-1998的历代版本如下：

• 1998年08月19日 GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
• 2008年03月31日 GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.分辨率测定

GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 于 2008-03-31 变更为 GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.分辨率测定。

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标准号

GB/T 17473.6-1998

发布日期

1998年08月19日

实施日期

1999年03月01日

废止日期

2008-09-01

中国标准分类号

H23

发布单位

CN-GB

代替标准

GB/T 17473.6-2008

适用范围

本标准规定了贵金属浆料分辨率的测试方法。 本标准适用于贵金属浆料的分辨率测定。非贵金属浆料亦可参照使用。

GB/T 17473.6-1998系列标准

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