DIN 5032-4:1999
光测量.第4部分:光源测量

Photometry - Part 4: Measurement of luminaires


DIN 5032-4:1999


标准号
DIN 5032-4:1999
发布
1999年
发布单位
德国标准化学会
替代标准
DIN EN 13032-1:2004
当前最新
DIN EN 13032-1:2012
 
 
该文件适用于照明应用的灯具。 它规定了灯具的测量和确定方法以及照明量的表示。

DIN 5032-4:1999相似标准


推荐

2018年你一定不能错过的史上最全Raman干货总结

激光光源的高强度入射被分子散射时,大多数散射与入射激光具有相同的波长(颜色),不能提供有用的信息,这种散射称为瑞利散射。然而,还有极小一部分(大约1/109)散射的波长(颜色)与入射不同,其波长的改变由测试样品(所谓散射物质)的化学结构所决定,这部分散射称为拉曼散射。每个拉曼峰代表了相应的拉曼散射的波长位置和强度。...

光纤隔离器实验观测

背景• 隔离器可防止背反射重新进入光源,从而保护光源免受反馈和损坏。• 法拉旋转器与半波片结合,位于两个光束位移偏振器之间,可阻挡与输入偏振无关的返回光束。• 在这里,我们检查了两个光纤耦合隔离器(IO-F1550APC 和 IO-H-1550APC)的典型性能。...

发光强度——坎德拉的演进

1937年,国际照明委员会(CIE)和国际计量文员会决定从1940年起使用“新烛光”自拍为发光强度单位,并定义为全辐射体在铂凝固温度下的亮度为为60新烛光每平方厘米,既在铂凝固点(2042.15K)上,绝对黑体1cm²面积的1/60部分的发光强度为1烛光。由于第二次世界大战的耽搁,这一标准没有执行。1946年,国际计量委员会根据1933年8届国际计量大会授权,决定颁布1旧烛光=1.005新烛光。...

【微光谱】微型光纤光谱仪测晶圆膜厚应用分享

图2:原理图上图为采用光纤光谱仪测膜厚的原理图,光束以θ1入射到薄膜表面,一部分直接反射,另一部分则以θ2 发生折射,折射经膜层下表面反射后再经其上表面发生折射,反射1与反射2相干发生干涉。使用光纤光谱仪测量薄膜的厚度主要是基于其反射干涉光谱。图3. 实物图测量时,整个路主要由反射探头组成,探头部分垂直于晶圆向下放置,光纤端一部分连接光源,形成入射,另一部分连接光纤光谱仪,接收反射光谱。...


DIN 5032-4:1999 中可能用到的仪器设备


谁引用了DIN 5032-4:1999 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号