JIS K 1800:1978
高纯度乙烯中痕量杂质的分析方法
Analytical methods for trace of impurities in high purity ethylene
JIS K 1800:1978 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- JIS K 1800:1978
- 发布
- 1978年
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS K 1800:1978
JIS K 1800:1978相似标准
推荐
使用NexION 5000 ICP-MS分析高纯度硅基质中的痕量污染物
尽管它们是使用不同的模式(MS/MS和质量转移)和反应气体获得的，但均表现出良好的线性。截距表示该特定样品中污染物的水平。图1：采用MSA获得的2000ppm Si (P为1500ppm Si)校准曲线示例结论NexION 5000多重四极杆ICP-MS性能稳定，适合对高浓度硅基质中ppt级的超痕量杂质进行常规定量分析，符合半导体和太阳能行业的要求。...
安捷伦在ASMS上发布两款专用GC-MS分析仪
分析测试百科网讯 正在进行的2016美国ASMS会议上，安捷伦发布展出了一系列质谱系统、软件和技术。其中包括砷化氢/磷化氢GC-MS分析仪和水质筛查GC/SQ分析仪。安捷伦砷化氢/磷化氢GC-MS分析仪 安捷伦在ASMS上展示的砷化氢/磷化氢GC-MS分析仪能够在高纯度乙烯和丙烯中进行超痕量（ppb级）砷化氢/磷化氢污 染物检测。...
食品检验检测技术基础知识-食品检测工培训
尤其是微量* 痕量*分析。*微量 *痕量 在分析化学中，根据分析试样中待测组分的含量多少，分析化学可以分为：常量组分（质量分数>1%）分析、微量组分（0.01%~1%）分析、痕量组分（...
化学衍生技术在微量、痕量杂质定量分析中的应用
内容来源：柳江医药药物中杂质常以GC-FID、GC-ECD、GC-MS、HPLC-UV、HPLC-MS进行分析检测，但是有些杂质在上述仪器中的灵敏度低，甚至无法满足检测要求；因此可以通过化学衍生化的方法提高其灵敏度或改变检测方式来满足检测要求。从而可以更好的对杂质进行控制，提供更安全的药品。...