本试验采用经选择的霉菌孢子在已装配的样品上接种，然后在促进孢子发芽和霉菌生长的条件下培养一段时间的方法进行长霉试验。 本试验给出两种不同的试验方法。试验方法1规定用霉菌孢子直接在样品上接种；试验方法2规定用可支持霉菌生长的营养液预先处理样品后再在样品上接种。 当已装配的样品必须暴露于空气的霉菌孢子中以及在气候条件有利于霉菌生长的地方工作时，本试验程序可用以评定霉菌生长程度和（或）由此可能产生的性能劣化。 建议使用其他已建立的真菌试验程序来评定所用结构材料因霉菌污染而导致的易受损性，并只使用不受霉菌严重侵蚀的材料。 本试验程序也适用于工作时不必暴露于霉菌孢子，但在贮存或运输时可能必须暂时暴露于霉菌孢子的已装配样品。 当已装配的样品在贮存、使用或运输时暴露于大气或装卸时无防护遮蔽，由灰尘、污迹、凝结的挥发性营养物或油脂形成的表面污染可能会沉积在样品上。这种表面污染会导致霉菌植入的增加，并可引起更多的霉菌生长和损害，这种污染的影响可用试验方法2来评定。 若已装配的样品被防护而不暴露于霉菌孢子，则即使在霉菌孢子丰富的地方工作，样品需经受起本试验严格程序的能力也是不必要的。 由于在一个很大的试验箱内难于保持必需的试验条件，大型组合设备通常用一些分组件来进行试验。总之，这将使试验费用缩减到最小，因为几个分组件可能在结构上如此相似以致仅需试验其中之一即可
GB/T 2423.16-1999由国家质检总局 CN-GB 发布于 1999-09-13，并于 2000-06-01 实施，于 2009-10-01 废止。
GB/T 2423.16-1999 在中国标准分类中归属于: K04 基础标准和通用方法，在国际标准分类中归属于: 19.040 环境试验。
GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验J和导则: 长霉 于 2008-12-30 变更为 GB/T 2423.16-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验J及导则:长霉。
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