BS EN 12544-1:1999由英国标准学会 GB-BSI 发布于 1999-12-15,并于 1999-12-15 实施。
BS EN 12544-1:1999 在中国标准分类中归属于: H26 金属无损检验方法,在国际标准分类中归属于: 19.100 无损检测。
本欧洲标准规定了一种直接、绝对测量高压发生器次级侧恒电位(DC)X射线系统平均高压的方法。 目的是检查与 X 射线系统控制单元上指示的高电压值的对应性。 该方法用于确保 X 射线系统的可重复操作,因为电压特别影响材料的穿透性和 X 射线图像的对比度以及有关辐射防护的要求。
BS 8472-2011 在受控实验室条件下评定塑料含氧生物降解和残留物植物毒性的方法 BS ISO 21427-2-2006 水质.通过测量微核诱导评估生物毒性.细胞链V79型混合菌群法 BS ISO 21427-1-2006 水质.测量微核感应评估基因毒性.利用两栖生物幼虫评估基因毒性 BS ISO 20079-2006 水质.水和废水的毒性对浮萍生物(青萍)影响的测定...
多道x射线荧光光谱仪应用领域 X 荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X 荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na 以上到U 的元素或化合物成分分析的领域,如:电子电器〔 RoHS 检测)、珠宝首饰、贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71 一3 )、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素S 、Pb 等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号