ISO 10111:2000
金属和其他无机覆盖层 单位面积质量的测量 重量分析法和化学分析方法评述
Metallic and other inorganic coatings - Measurement of mass per unit area - Review of gravimetric and chemical analysis methods
- 标准号
- ISO 10111:2000
- 发布
- 2000年
- 中文版
- GB/T 20017-2005 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 10111:2019
- 当前最新
- ISO 10111:2019
- 引用标准
- ISO 2079:1981 ISO 2080:1981 ISO 2081:1986 ISO 2082:1986 ISO 2093:1986 ISO 2106:1982 ISO 3892 ISO 4522-1:1985 ISO 4524-1:1985 ISO 7587:1986 ISO 8407:1991
- 适用范围
- 概述 本国际标准概述了使用重量分析和其他化学分析测定阳极氧化或自催化、机械、化学转化、电沉积、热浸镀锌和真空沉积涂层测量区域的平均表面密度的一般方法。 已达到一定程度的国家或国际标准化的程序。 描述了多种程序，包括： ——用于化学或电化学溶解涂层或基材以确定涂层表面密度的重量分析程序； ——利用涂层溶解进行光度法或体积法测定涂层表面密度的分析程序； ——对涂层进行无损仪器物理分析以确定表面密度。 除 ISO 3892 中描述的重量分析方法外： ——本国际标准没有给出所引用方法的测量不确定度。 2 来源 附录 A 中引用的剥离方法在公开文献的规范中进行了描述，或者已被至少一个实验室常规使用。 3 限制 所描述的程序可用于许多涂层-基材组合。 它们不能用于涂层和基材材料都不能通过化学或物理手段完全去除的情况，并且两者具有不易分离的共同成分（例如镍上的镍磷合金）。 注：在非常小的工件上测量非常薄的涂层可能会导致精度降低且缺乏可重复性。 对类似样品使用不同程序的组合进行多次测量可能会克服这种情况。 4 限制 原则上，重量分析程序可用于测量非常薄的涂层或测量小区域的涂层，但不能测量小区域的薄涂层。 限制取决于所需的精度；例如，2.5 mg/cm 的涂层可能需要 1 cm ，但 0.1 mg/cm 的涂层需要 25 cm 才能获得 2.5 mg 的涂层。 这些限制不适用于化学分析方法。 重量分析法并不表明测量区域中存在裸露点或厚度低于规定最小值的部位。 此外，从每个测量区域获得的单个值是该区域的平均厚度。 无法对该单个值进行进一步的数学分析，例如用于统计过程控制目的。
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