ISO 8289:2000
釉瓷和搪瓷 检查和定位缺陷的低电压试验
Vitreous and porcelain enamels - Low voltage test for detecting and locating defects
- 标准号
- ISO 8289:2000
- 发布
- 2000年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 8289:2000
- 适用范围
- 本国际标准规定了两种低电压测试，用于检测和定位搪瓷涂层中延伸至基体金属的缺陷。 方法A（电气）适用于快速检测和确定缺陷的大致位置。 方法 B（光学）基于颜色效果，适合更精确地检测缺陷及其确切位置。 方法 A 通常适用于平坦表面，而方法 B 则适用于更复杂的形状。 注 1：选择正确的测试方法对于区分方法 B 检测到的电导率增加的区域与延伸到基体金属的实际孔隙至关重要，这两种方法都可以检测到。 注 2：低电压测试是一种非破坏性检测缺陷的方法（见第 3 条），因此与 ISO 2746 中规定的高电压测试完全不同。 高电压和低电压测试的结果不具有可比性，并且会有所不同。
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