测定样品中的小粒径纤维(≥0.1μm)则需要使用扫描电子显微镜法(SEM)或者转移电子显微镜法(TEM)。OECD 110...
图5 发泡滤膜及网膜3 分 析 光学分析可以提供杂质的部分具体信息,杂质颗粒可以被测量、计数以及确定类型。光学系统包括材料显微镜、体视显微镜、连续变倍镜和扫描电镜等。光学分析中颗粒物的种类是通过形状及是否有金属光泽来区分纤维、金属/非金属颗粒的。颗粒物的颗粒度测量方式如下图所示。如果需要对颗粒物进行成分分析,还会用到扫描电镜进行能谱分析。...
SEM/EDS 通常用于深度研究,例如,成因研究,这类研究需要更详细的数据信息,例如,颗粒的元素组成。图 5:3 种颗粒分析方法的性能对比:光学显微镜技术、扫描电子显微镜 (SEM),以及微计算机断层扫描技术(微型 CT)在颗粒检测方面,显微镜的光学分辨率是限制因素。光学系统本身无法分辨颗粒,因为它的尺寸低于分辨率阈值,所以无法识别颗粒的细节部分。...
在这个过程中关键是要了解无纺布的性能,以便能够优化产品。改变无纺布的结构需要纤维分析设备来检测或测试材料的性能。这可以是:化学分析-发射-吸收光谱法,XRF,XPS机械测试-拉伸、磨损、穿刺显微镜-光学,扫描电镜(SEM),AFM用于纤维分析的电子显微镜技术例如,显微技术对于评估过滤器的性能是必不可少的。有不同的方法来获得纤维的微观视图。近几十年来,光学检测一直是行业标准。...
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