JIS K 3850-1:2000
空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法

Measuring method for airborne fibrous particles -- Part 1: Optical microscopy method and scanning electron microscopy method

2006-10

标准号
JIS K 3850-1:2000
发布
2000年
发布单位
日本工业标准调查会
替代标准
JIS K 3850-1:2006
当前最新
JIS K 3850-1:2006
 
 

JIS K 3850-1:2000相似标准


推荐

化学药品粒度、纤维长度粒径分布检测指南

测定样品小粒径纤维(≥0.1μm)则需要使用扫描电子显微镜(SEM)或者转移电子显微镜(TEM)。OECD 110...

干货 | 汽车零部件可靠性保障之颗粒物清洁度测试

图5 发泡滤膜及网膜3 分  析 光学分析可以提供杂质部分具体信息,杂质颗粒可以被测量、计数以及确定类型。光学系统包括材料显微镜、体视显微镜、连续变倍镜扫描电镜等。光学分析颗粒物种类是通过形状及是否有金属光泽来区分纤维、金属/非金属颗粒。颗粒物颗粒度测量方式如下图所示。如果需要对颗粒物进行成分分析,还会用到扫描电镜进行能谱分析。...

一篇文章带你全面了解清洁度分析—基于显微镜测量系统实现自动颗粒分析

SEM/EDS 通常用于深度研究,例如,成因研究,这类研究需要更详细数据信息,例如,颗粒元素组成。图 5:3 种颗粒分析方法性能对比:光学显微镜技术、扫描电子显微镜 (SEM),以及微计算机断层扫描技术(微型 CT)在颗粒检测方面,显微镜光学分辨率是限制因素。光学系统本身无法分辨颗粒,因为它尺寸低于分辨率阈值,所以无法识别颗粒细节部分。...

为什么扫描电镜(SEM)是最适合纤维分析检测设备

在这个过程关键是要了解无纺布性能,以便能够优化产品。改变无纺布结构需要纤维分析设备来检测或测试材料性能。这可以是:化学分析-发射-吸收光谱,XRF,XPS机械测试-拉伸、磨损、穿刺显微镜-光学扫描电镜(SEM),AFM用于纤维分析电子显微镜技术例如,显微技术对于评估过滤器性能是必不可少。有不同方法来获得纤维微观视图。近几十年来,光学检测一直是行业标准。...


JIS K 3850-1:2000 中可能用到的仪器设备


谁引用了JIS K 3850-1:2000 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号