JIS M 8205:2000
铁矿石.X射线荧光光谱仪分析
Iron ores -- X-ray fluorescence spectrometric analysis
JIS M 8205:2000 发布历史
JIS M 8205:2000由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2000-03-20。
JIS M 8205:2000 在中国标准分类中归属于: D31 铁矿，在国际标准分类中归属于: 73.060.10 铁矿。
JIS M 8205:2000 铁矿石.X射线荧光光谱仪分析的最新版本是哪一版？
最新版本是 JIS M 8205 ERRATUM 2:2004 。
JIS M 8205:2000的历代版本如下：
- 2004年 JIS M 8205 ERRATUM 2:2004 勘误
- 2003年 JIS M 8205 ERRATUM 1:2003 勘误1
- 2000年 JIS M 8205:2000 铁矿石.X射线荧光光谱仪分析
- 1983年 JIS M 8205:1983 铁矿石荧光X射线分析方法
この規格は，鉄鉱石の蛍光X線分析方法について規定する。
- 标准号
- JIS M 8205:2000
- 发布
- 2000年
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 替代标准
- JIS M 8205 ERRATUM 1:2003
- 当前最新
- JIS M 8205 ERRATUM 2:2004
- 被代替标准
- JIS M 8205:1983
JIS M 8205:2000相似标准
推荐
波长色散X射线荧光光谱仪精度测定标准制订完成
波长色散X射线荧光光谱仪是X射线光谱仪的两大分类之一，适用于各种固体材料或液体，如金属、玻璃、陶瓷、岩石、矿物、燃油、水质及沉积物的定量分析及未知样品的无标样半定量分析，广泛应用于钢铁、冶金、石化、地质、环保、材料、电子等领域。 ...
铁矿石类鉴别系统Oreids技术方案：单波长 X 射线荧光光谱仪
• 单波长 X 射线荧光光谱仪原理 单波长X射线荧光光谱仪（HS XRF）采用全聚焦型双曲面弯晶技术，全聚焦型双曲面弯晶将X射线光管出射谱中靶材特征射线衍射聚焦到样品一点，大幅降低或消除X射线管出射谱中连续散射线背景对样品元素谱的干扰，提升元素检测信噪比，相对传统XRF检出限降低1-2个数量级，单波长X射线荧光光谱仪实现对微量和痕量元素的检测分析。 ...
采用EDXRF快速可靠的测试铁矿石压片样品
此报告显示出的高精准度表明S2 PUMA是铁矿石化学成分监测的理想方法。以上文章来源于布鲁克X射线部门，作者：Dr. Soodabeh Durali-Müller, Frank Portala, Bruker AXS, Karlsruhe, Germany 台式X射线荧光光谱仪 S2 PUMA仪器为台式能量色散型X 射线荧光(EDXRF) 光谱仪，它采用了激发和检测技术的最新成果。...
山东龙口检验检疫局引进ICP、X射线荧光等 缩短检测流程
近日，龙口检验检疫局化矿实验室完成了对新引进的电感耦合等离子体发射光谱仪ICP、X射线荧光光谱仪和熔融炉等大型仪器的安装调试与计量校准。 ...