ISO 3543:2000
金属和非金属覆盖层 厚度测量 β射线背散射法
Metallic and non-metallic coatings - Measurement of thickness - Beta backscatter method
- 标准号
- ISO 3543:2000
- 发布
- 2000年
- 中文版
- GB/T 20018-2005 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 3543:2000/Cor 1:2003
- 当前最新
- ISO 3543:2000/Cor 1:2003
- 适用范围
- 警告 用于测量涂层厚度的 Beta 反向散射仪器使用多种不同的放射源。 尽管这些来源的活性通常很低，但如果处理不当，可能会对健康造成危害。 因此，应参考现行国际和国家标准（如有）。 本国际标准规定了使用β反向散射仪无损测量涂层厚度的方法。 它适用于金属和非金属基材上的金属和非金属涂层。 为了利用这种方法，涂层和基材的原子序数或等效原子序数需要有适当的差异。 注：自从引入 X 射线荧光法（ISO 3497）以来，β 反向散射法越来越少地用于涂层厚度的测量。 然而，由于其成本较低，对于许多应用来说它仍然是一种非常有用的测量方法。 此外，它还具有更宽的测量范围。
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