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图 1 显示了将粉末样品直接添加到碳导电胶上和使用 Nebula™ 颗粒分散器之间的区别。图1:将粉末样品直接涂覆到碳导电胶(左)和使用 Nebula™ 颗粒分散器(右)之间的扫描电镜图比较。Nebula™ 颗粒分散器进行样品制备Nebula™ 的使用步骤如下图所示。 在开始之前,操作者移除圆柱并取出样品台(通常由铝制成)。...
除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外,其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。需要采用物理减薄法的样品制备过程,须由用户自己完成。超薄切片样品的制备,需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序,周期较长(约两周左右)。3. 送样登记时应注明样品大致形态、尺寸、观测内容(包括是否要做晶格衍射);本...
除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外,其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。一般情况下,需要采用物理减薄法的样品制备过程,须由用户自己完成(不具备此制样条件的院系,可租用本室的相关设备)。...
对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥(为避免粉末脱落,粒径需小于1um,请先在显微镜下观察确认;大颗粒粉末样品请研磨或包埋切片处理后再观察)。对于块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;高分辨送样要求厚度在10nm 以下。对于静电纺丝样品,建议将样品以较低密度直接纺到铜网支持膜上。...
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